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  • AE-100M-NS10納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀

    納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀3D圓形量測(cè)能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測(cè)能力，且不需要使用電子束或鐳射，關(guān)機(jī)快又安全，維護(hù)成本更低。

    更新日期：2024-11-07
    型號(hào)：AE-100M-NS10
    廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
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